Vergleich der Fehlermodi von Tantal- und Nioboxid-Kondensatoren
Geschrieben von: George Zhang
Abstract:
Die Automobilindustrie ist in hohem Maße von fortschrittlicher Sensorik und Computertechnik abhängig geworden. Seit Mitte des 20. Jahrhunderts hat die Entwicklung dichter, zuverlässiger und stabiler Kondensatoren maßgeblich zur Weiterentwicklung von Hochgeschwindigkeitscomputern und Hochleistungselektronik beigetragen. Die Anforderungen an diese Kondensatoren sind erheblich gestiegen und erfordern hohe Temperaturbeständigkeit, Zuverlässigkeit in rauen Umgebungen und immer geringere parasitäre Parameter wie äquivalenten Serienwiderstand (ESR) und Induktivität (ESL).
Tantal- und Nioboxid-Kondensatoren sind zwei der bekanntesten Kandidaten, die diese Anforderungen erfüllen. Obwohl sie im Aufbau ähnlich sind, sind ihre Ausfallarten nuanciert und erfordern ein sorgfältiges Verständnis, um ein erfolgreiches Design für eine bestimmte Anwendung sicherzustellen.
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Die Automobilindustrie ist in hohem Maße von fortschrittlicher Sensorik und Computertechnik abhängig geworden. Seit Mitte des 20. Jahrhunderts hat die Entwicklung dichter, zuverlässiger und stabiler Kondensatoren maßgeblich zur Weiterentwicklung von Hochgeschwindigkeitscomputern und Hochleistungselektronik beigetragen. Die Anforderungen an diese Kondensatoren sind erheblich gestiegen und erfordern hohe Temperaturbeständigkeit, Zuverlässigkeit in rauen Umgebungen und immer geringere parasitäre Parameter wie äquivalenten Serienwiderstand (ESR) und Induktivität (ESL).
Tantal- und Nioboxid-Kondensatoren sind zwei der bekanntesten Kandidaten, die diese Anforderungen erfüllen. Obwohl sie im Aufbau ähnlich sind, sind ihre Ausfallarten nuanciert und erfordern ein sorgfältiges Verständnis, um ein erfolgreiches Design für eine bestimmte Anwendung sicherzustellen.
