Funktionsprüfung von Entkopplungskondensatoren für dynamische RAMs

Funktionsprüfung von Entkopplungskondensatoren für dynamische RAMs
Geschrieben von: Arch Martin | Ward Parkinson
Abstract:
Die vergleichende Leistung verschiedener Typen verteilter Entkopplungskondensatoren mit und ohne Tantalkondensatoren wird unter tatsächlichen Betriebsbedingungen in einer 64K-Dynamic-RAM-Speicherkarte gezeigt, die speziell für Hochfrequenztests im Einsatz entwickelt wurde. Mehrschichtige Keramikkondensatoren erweisen sich auch ohne Verwendung von Tantalkondensatoren zur Entkopplung als effektiv und wirtschaftlich.
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